Vés al contingut

Fitxer:AFMsetup.jpg

De Viki.cat

AFMsetup.jpg (721 × 569 píxels, mida del fitxer: 86 Ko, tipus MIME: image/jpeg)

Logo del projecte Wikimedia Commons
Logo del projecte Wikimedia Commons
Aquest fitxer i la informació mostrada a continuació provenen del dipòsit multimèdia lliure Wikimedia Commons.
Descripció a Commons Vegeu la pàgina original a Commons

Resum

Descripció
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Data 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Font

http://kristian.molhave.dk

Autor yashvant
Permís
(Com reutilitzar aquest fitxer)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg és una versió vectorial (SVG) d'aquest fitxer. En cas de ser millor, hauria de ser emprada en lloc d'aquesta imatge tramada.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
Per a més informació pel que fa als gràfics vectorials, llegiu la transició a SVG en Commons.
També hi ha informació quant a la compatibilitat del MediaWiki amb les imatges SVG.
En altres idiomes
Alemannisch ∙ العربية ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ বাংলা ∙ català ∙ нохчийн ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ Ελληνικά ∙ English ∙ British English ∙ Esperanto ∙ español ∙ eesti ∙ euskara ∙ فارسی ∙ suomi ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ Alemannisch ∙ עברית ∙ हिन्दी ∙ hrvatski ∙ magyar ∙ հայերեն ∙ Bahasa Indonesia ∙ Ido ∙ italiano ∙ 日本語 ∙ ქართული ∙ 한국어 ∙ lietuvių ∙ македонски ∙ മലയാളം ∙ Bahasa Melayu ∙ မြန်မာဘာသာ ∙ norsk bokmål ∙ Plattdüütsch ∙ Nederlands ∙ norsk nynorsk ∙ norsk ∙ occitan ∙ polski ∙ prūsiskan ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ русский ∙ sicilianu ∙ Scots ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ српски / srpski ∙ svenska ∙ தமிழ் ∙ ไทย ∙ Türkçe ∙ татарча / tatarça ∙ українська ∙ vèneto ∙ Tiếng Việt ∙ 中文 ∙ 中文（中国大陆） ∙ 中文（简体） ∙ 中文（繁體） ∙ 中文（马来西亚） ∙ 中文（新加坡） ∙ 中文（臺灣） ∙ +/−
Nova imatge SVG

Llicència

w:ca:Creative Commons
reconeixement
Aquest fitxer està disponible sota la llicència Creative Commons Reconeixement 2.5 Genèrica.
Sou lliure de:
  • compartir – copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra
  • adaptar – fer-ne obres derivades
Amb les condicions següents:
  • reconeixement – Heu de donar la informació adequada sobre l'autor, proporcionar un enllaç a la llicència i indicar si s'han realitzat canvis. Podeu fer-ho amb qualsevol mitjà raonable, però de cap manera no suggereixi que l'autor us dóna suport o aprova l'ús que en feu.

Llegendes

Afegeix una explicació d'una línia del que representa aquest fitxer

Elements representats en aquest fitxer

representa l'entitat

alçària

569 píxel

amplada

721 píxel

Historial del fitxer

Cliqueu una data/hora per veure el fitxer tal com era aleshores.

Data/horaMiniaturaDimensionsUsuari/aComentari
actual16:10, 21 nov 2006Miniatura per a la versió del 16:10, 21 nov 2006721 × 569 (86 Ko)wikimediacommons>KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

La pàgina següent utilitza aquest fitxer:

Obtingut de «https://www.viki.cat/wiki/Fitxer:AFMsetup.jpg»